加工定制:否 | 品牌:DNK日本科研 | 型号:MA-4301M |
用途:刻蚀 | 别名:曝光机/光刻机 |
主要特长
利用本公司***的高速图像处理技术, 实现了Wafer与掩膜的高精度对位。
装载机侧和卸载机侧最多可设置两个篮具(选购项)。
备有冷却机构,可进行基板台与掩膜的温度管理(选购项)。
搭载本公司***的镜面光学系统爆光灯房(LAMP HOUSE)。从而实现了照射面内的均匀性以及高照度。
搭载非接触预对位系统(PREALIGNER)。从而实现了高精度进给且***基板不受任何损伤。
搭载有自动掩膜更换机。并可支持掩膜存放库。
主要规格
MA-4301M | ||
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Wafer尺寸 | 材料 | Si,Glass |
尺寸 | Φ6″ x t0.625 mm(6″ = Φ150 mm) +/- 0.2 mm | |
Φ8″ x t0.725 mm(8″ = Φ200 mm) +/- 0.2 mm | ||
节拍时间 | Proximity exposure:19 s/wafer (One parallelism compensation per lot) | |
对位精度 | 自动对位:+/- 1 μm (Peak search) | |
间隙 | 1 to 200 μm Servo motor Setup resolution:1 μm | |
曝光方式 | Soft contact exposure Hard contact exposure Proximity exposure | |
尺寸?重量 | 本体尺寸:W 1800 x D 1650 x H 2015 mm 总重量(including lamp house):1400 kg |