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日本科研DNK曝光装置MA-4301M光刻机Wafer直径200mm兼容
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日本科研DNK曝光装置MA-4301M光刻机Wafer直径200mm兼容

化合物半导体用曝光装置(MaskAligner)

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加工定制:否品牌:DNK日本科研型号:MA-4301M
用途:刻蚀别名:曝光机/光刻机

日本科研DNK曝光装置MA-4301M光刻机Wafer直径200mm兼容详细介绍

主要特长

  • 利用本公司***的高速图像处理技术, 实现了Wafer与掩膜的高精度对位。

  • 装载机侧和卸载机侧最多可设置两个篮具(选购项)。

  • 备有冷却机构,可进行基板台与掩膜的温度管理(选购项)。

  • 搭载本公司***的镜面光学系统爆光灯房(LAMP HOUSE)。从而实现了照射面内的均匀性以及高照度。

  • 搭载非接触预对位系统(PREALIGNER)。从而实现了高精度进给且***基板不受任何损伤。

  • 搭载有自动掩膜更换机。并可支持掩膜存放库。






主要规格


 MA-4301M
Wafer尺寸材料Si,Glass
尺寸Φ6″ x t0.625 mm(6″ = Φ150 mm) +/- 0.2 mm
Φ8″ x t0.725 mm(8″ = Φ200 mm) +/- 0.2 mm
节拍时间Proximity exposure:19 s/wafer
(One parallelism compensation per lot)
对位精度自动对位:+/- 1 μm
(Peak search)
间隙1 to 200 μm Servo motor
Setup resolution:1 μm
曝光方式Soft contact exposure
Hard contact exposure
Proximity exposure
尺寸?重量本体尺寸:W 1800 x D 1650 x H 2015 mm
总重量(including lamp house):1400 kg



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